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首页 > 供应产品 > XP 系列分析天平
XP 系列分析天平
浏览: 561
品牌: 梅特勒
单价: 面议
最小起订量:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-06-03 13:56
 
详细信息

产品特征
• 采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求• 天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,确保称量结果始终准确• 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求• 完全可拆卸,清洗的玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁• 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量技术参数
型号 称量值(g) 可读性(mg) 重复性(sd)(mg) 线性误差(mg) 典型稳定时间(s) 秤盘尺寸(W*D)(mm)
XP105DR 31/120 0.01/0.1 0.015/0.06 0.15 1.5 78*73
XP205 220 0.01 0.03 0.1 2.5 78*73
XP205DR 81/220 0.01/0.1 0.015/0.06 0.15 1.5 78*73
XP204 220 0.1 0.07 0.2 1.5 78*73
XP504 520 0.1 0.12 0.4 1.5 78*73
XP504DR 101/520 0.1/1 0.1/0.6 0.5 1.5 78*73
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